Czujniki połysku i struktury
GLAST Serie
Procesach ze światłem odbitym Procesach ze światłem przechodzącym
Czujniki inline GLAST-Serie znajdują zastosowanie przede wszystkim tam, gdzie należy kontrolować powierzchnie silnie odbijające światło (np. blachy ze stali szlachetnych, blachy aluminiowe, powierzchnie lakierowane, folie z tworzywa sztucznego) jak również obiekty przezroczyste (folie, płyty szklane, płyty ze szkła organicznego).
W tym przypadku siatka dyfrakcyjna przy pomocy badanego obiektu, który stanowi mniej lub bardziej optymalne lustro, odwzorowywana jest poprzez obiektyw projekcyjny na detektorze liniowym. Natomiast obiekty przezroczyste są umieszczane w pobliżu siatki dyfrakcyjnej, co jest odwzorowywane z kolei poprzez obiektyw projekcyjny na detektorze liniowym. W obydwu przypadkach czynnikiem decydującym o jakości obiektu jest jakość sygnału wideo na detektorze liniowym.
W tym przypadku siatka dyfrakcyjna przy pomocy badanego obiektu, który stanowi mniej lub bardziej optymalne lustro, odwzorowywana jest poprzez obiektyw projekcyjny na detektorze liniowym. Natomiast obiekty przezroczyste są umieszczane w pobliżu siatki dyfrakcyjnej, co jest odwzorowywane z kolei poprzez obiektyw projekcyjny na detektorze liniowym. W obydwu przypadkach czynnikiem decydującym o jakości obiektu jest jakość sygnału wideo na detektorze liniowym.
W procesach ze światłem odbitym przetwarzanie osi optycznych następuje pod kątem 30° (lub 45°) osi optycznych nadajnika i odbiornika w stosunku do linii pionowej, podczas gdy w procesach ze światłem przechodzącym obiekt poddany badaniu znajduje się w pozycji pionowej do osi optycznej nadajnik -odbiornik. Odstęp nadajnika od odbiornika w obydwu przypadkach wynosi ok. 135mm.
Do wyboru znajdują się zawsze trzy siatki dyfrakcyjne (0,5mm/0,5mm; 1,0mm/1,0mm jak również 2,0mm/2,0mm).
Do wyboru znajdują się zawsze trzy siatki dyfrakcyjne (0,5mm/0,5mm; 1,0mm/1,0mm jak również 2,0mm/2,0mm).